Mehr als ein halbes Jahrhundert Erfahrung.

ACCRETECH wurde 1949 unter dem Namen Tokyo Seimitsu gegründet und steht für innovative Technologien von hoher Zuverlässigkeit. Damals genauso wie heute.

1952
Erster Flow Type Air Micrometer

1957
Erster LVDT Type Electric Micrometer

1958
Erster Germanium Pellat Auto-Sorter

1962
Erstes Oberflächenmessgerät

1963
Erste Wafer Slicing Maschine

1964
Entwicklung erster Wafer Prober

1967
Entwicklung von Spindelformmessern

1969
Erste Koordinatenmessmaschine

1970
Entwicklung der Wafer Dicing Maschine

1991
Weltweit erster vollautomatische 200mm Wafer Prober APM90

1998
Erster 300mm Wafer Prober UF300

2000
Weltweit erster Polish Grinder PG200

2000
Erster Frame Handling Prober FP200

2002
Erster Chemical Mechanical Planarizer

2002
Erstes Formmessgerät mit einer Rotationsgenauigkeit von 0.01 µm

2005
Erster Wafer Dicer mit Laser-Modul

2005
Erster Konturen- und Oberflächenmesser mit Linearantrieb

2007
Einführung der next-generation Wafer Prober UF2000 und UF3000EX

2011
Weltweit erster 300mm Frame Handling Prober

2011 / 2012
Einführung der next-generation Blade Dicer AD3000T / AD2000T